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Accueil / Métrologie dimensionnelle / Projecteurs de profil, systèmes de mesure rapide plein champ, systèmes de mesure par analyse d'image / Systèmes de mesure par analyse d'images

Spécifications

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Code Range Accuracy Resolution Repeatability Magnification Max. load
ISD-U322 300×200×200mm vision:≤(2+L/200)μm, probe:≤(3+L/200)μm 0.5μm 1.5μm 36X~210X (on 21.5'' monitor) 20kg
ISD-U432 400×300×200mm vision:≤(2+L/200)μm, probe:≤(3+L/200)μm 0.5μm 1.5μm 36X~210X (on 21.5'' monitor) 30kg
ISD-U532 500×300×200mm vision:≤(2+L/200)μm, probe:≤(3+L/200)μm 0.5μm 1.5μm 36X~210X (on 21.5'' monitor) 35kg
ISD-U542 500×400×200mm vision:≤(2+L/200)μm, probe:≤(3+L/200)μm 0.5μm 1.5μm 36X~210X (on 21.5'' monitor) 35kg

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